1988年毕业于中国科学技术大学，获理学、博士学位。1988年到中国科学院高能物理研究所做博士后。1995年晋升为高能物理研究所研究员。

在国内第一次实验测量了由我国科学家黄昆先生命名的X射线黄昆漫散射，研究辐照晶体中的晶体缺陷组态和分布；系统研究了非晶周期多层膜材料的热稳定性，成功解释了一直困扰多层膜应用过程中的热膨胀问题，在非晶多层膜的X射线非镜面散射(漫散射)的研究中，取得了国际领先水平的工作；完成了北京同步辐射装置4W1C光束线的物理设计和调试验收；利用掠入射X射线衍射/小角散射等实验技术在半导体GeSi量子点的微结构表征中取得重要研究成果。近期开展了同步辐射X射线相位衬度成像技术的医学应用研究、X射线自由电子激光关键技术及设备研制等方面的研究工作。