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专利名称：
深空探测X射线谱仪定标设备
英文名称：
专利号：
ZL 200820080543.9
专利类别：
外观设计
专利证书号：
申请号：
200820080543.9
发明人：
高旻、汪锦州、王焕玉、张承模、崔兴柱、彭文溪、曹学蕾、张家宇、杨家卫、梁晓华
其它发明人：
申请日期：
2008-05-14
专利授权日期：
2009-04-01
国外申请日期：
国外申请方式：
缴费情况：
实施情况：
专利摘要：
其它备注：
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