专利----中国科学院高能物理研究所

专利

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专利名称：

二次电子特性参数的测量装置和方法

英文名称：

专利号：

ZL 201820193972.0

专利类别：

发明

专利证书号：

申请号：

2015104091574

发明人：

王鹏程;刘瑜冬

其它发明人：

申请日期：

2015-07-13

专利授权日期：

2017-11-21

国外申请日期：

国外申请方式：

缴费情况：

实施情况：

专利摘要：

其它备注：

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