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专利名称:
具有空间分辨能力的X射线微区吸收谱测量方法
英文名称:
专利号:
ZL 201410345781.8
专利类别:
发明
专利证书号:
申请号:
2014103457818
发明人:
张凯;吴雪卉;朱佩平;袁清习;黄万霞
其它发明人:
申请日期:
2014-07-18
专利授权日期:
2017-11-07
国外申请日期:
国外申请方式:
缴费情况:
实施情况:
专利摘要:
其它备注:
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